碳化硅电气稳定性测试

参考周期：常规试验7-15工作日，加急试验5个工作日。

注意：因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。

检测项目

1.绝缘性能检测：绝缘电阻、体积电阻率、表面电阻率、绝缘恢复特性。

2.耐电压能力检测：击穿电压、耐受电压、阶梯升压响应、持续加压稳定性。

3.漏电特性检测：漏电流、暗态电流、反向漏电行为、温升下漏电变化。

4.导电稳定性检测：电阻稳定性、导通一致性、重复通电后参数变化、电流承载稳定性。

5.温度电气耦合检测：高温通电性能、低温电气响应、温度循环后电参数变化、热漂移特性。

6.湿热电气稳定性检测：湿热环境绝缘变化、吸湿后漏电变化、通电受潮稳定性、冷凝影响评估。

7.介电特性检测：介电常数、介质损耗、频率响应特性、电场作用下介电稳定性。

8.脉冲电气响应检测：脉冲耐受能力、瞬态响应、电压冲击后参数恢复、重复脉冲稳定性。

9.老化后电性能检测：长期通电老化、加速老化后电阻变化、绝缘衰减、失效前兆参数变化。

10.接触电性能检测：接触电阻、界面导电稳定性、连接部位压降、通断循环电性能。

11.高场强稳定性检测：高电场下电流响应、场致失稳行为、局部放电敏感性、电场均匀性影响。

12.重复载荷电性能检测：循环加压稳定性、间歇通电稳定性、负载切换响应、疲劳后电参数保持性。

检测范围

碳化硅陶瓷基片、碳化硅单晶片、碳化硅外延片、碳化硅功率器件、碳化硅二极管、碳化硅晶体管、碳化硅整流元件、碳化硅加热元件、碳化硅电阻元件、碳化硅绝缘结构件、碳化硅封装部件、碳化硅模块基板、碳化硅导电陶瓷、碳化硅复合材料部件、碳化硅电子元件、碳化硅敏感元件

检测设备

1.绝缘电阻测试仪：用于测定样品在规定电压条件下的绝缘电阻及绝缘稳定性。

2.耐电压测试仪：用于施加升压或恒压负载，评估样品的耐受电压能力与击穿风险。

3.高阻计：用于测量体积电阻率、表面电阻率及微小漏电相关参数。

4.源表测试系统：用于输出电压电流并同步采集响应数据，分析导通、漏电及参数漂移行为。

5.介电性能测试仪：用于测定介电常数、介质损耗及不同频率下的电学响应特性。

6.高低温试验箱：用于构建高温或低温环境，评估温度变化对电气稳定性的影响。

7.湿热试验箱：用于模拟高湿与热环境条件，考察样品受潮后的电性能变化。

8.脉冲电参数测试装置：用于施加瞬态或重复脉冲负载，评估样品的冲击响应与恢复能力。

9.老化试验装置：用于开展长期通电或加速老化试验，分析电性能衰减过程。

10.局部放电检测装置：用于监测高电场条件下的局部放电行为，辅助判断绝缘缺陷和失稳趋势。

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

中析仪器资质